More-выявление способов изучения материалов
Исследователи из национальной лаборатории Oak Ridge (ORNL; Ок-Ридж, Теннеси; <a target="_blank" href="http://www.oml.gov" rel="nofollow"> www.oml.gov </>) разработали новый метод, называемый 3-D differentialaperture рентгеновской микроскопии, которая позволяет изучить внутреннюю структуру поликристаллических материалов (например, ориентации кристалла, морфология и напряжений и деформаций поведения) с размером зерен размером от нескольких микрон до сотен микрон, последний из которых слишком велики для исследования с помощью традиционных электронной микроскопии тонких сечения.
Техника, которая расширяет возможности 3-D в ORNL рентгеновского микроскопа, использует 50-вечера ножа профайлер, который действует как камеры-обскуры в передней части образца (рисунок). Луч белого света из микроскопа проникает поликристаллического материала, производя Лауэ изображение из каждого зерна он сталкивается. "Лауэ" описывает дифракционную картину рентгеновских отражений генерируется при полихромные рентгеновского пучка забастовки монокристалла. Происхождения интенсивности рентгеновского излучения каждого лауэграмме регистрируется прибор с зарядовой связью (ПЗС) и расшифровывается путем вычитания снимки, сделанные до и после ножа движется. "Анализ этих измерений позволяет восстановить компьютер рентгеновских дифракционных картин от субмикронных расстояниях вдоль микропучка", объясняет Бен Ларсон, старший научный сотрудник лаборатории твердого Государственный Div. И технологии разработчика. "Кроме того, материалы могут быть рассмотрены без разрушения образца".
3-D рентгеновской микроскопии кристаллов в настоящее время опытный образец. "Стоимость дублировать его составляет около $ 4-5 млн. использованием третьего поколения, синхротронные и несколько медленнее и менее проникающее версия может быть установлена примерно за $ 2 млн на второе поколение источником синхротронного излучения", говорит Ларсон. ORNL ученые работают с НАСА и полупроводниковой и электронной промышленности на коммерческую технику.
